失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及,它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。電子元器件技術的快速發展和可靠性的提高奠定了現代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。
電子元器件是電子產品的組成部分,受電子元器件質量的影響,電子產品的質量與性能也會發生變化。從20世紀50年代開始,國外就興起了可靠性技術研究,而國內則是從改革開放初期開始發展。通過可靠性試驗,可以確定電子產品在各種環境條件下工作或存儲時的可靠性特征量,為使用、生產和設計提供有用的數據;也可以暴露產品在設計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質量控制等一系列反饋措施,可使產品存在的問題逐步解決,提高產品可靠性
失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析在產品的可靠性質量保證和提高中發揮著重要作用,在產品的研發、生產、使用中都需要引入失效分析工作。還在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。那么怎么做失效分析?以下幾種失效分析方法安利給大家。
隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
電路故障是每個工程師都比較頭疼的事情,電子元器件在使用過程中,也會出現失效和故障,從而影響設備的正常工作。下面就來了解一下電子元器件的失效分析和故障原因。如果熟悉了元器件的故障類型,有時通過直覺就可迅速的找出故障元件,有時只要通過簡單的電阻、電壓測量即可找出故障。
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下: