創芯檢測始終秉持"專業，權威，高效，創新"的宗旨，重金購置國際先進的檢測設備，測試嚴格遵照國際檢測標準及方法，現已取得CNAS認證并獲國際互認資質，客戶群涵蓋海內外多個國家和地區，是國內素質過硬、知名度高的專業IC檢測機構。開關電源有哪些測試項目?本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

1. 反復短路測試

測試說明

在各種輸入和輸出狀態下將模塊輸出短路，模塊應能實現保護或回縮，反復多次短路，故障排除后，模塊應該能自動恢復正常運行。

測試方法

回縮，短路排除后，模塊應能恢復正常工作。讓模塊反復從空載到短路不斷的工作，短路時間為1s，放開時間為1s，持續時間為2小時。這以后，短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。

滿載到短路：在輸入電壓全范圍內，將模塊從滿載到短路，模塊應能正常實現輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應能恢復正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態2小時。然后短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。

短路開機：將模塊的輸出先短路，再上市電，再模塊的輸入電壓范圍內上電，模塊應能實現正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應能恢復正常工作，重復上述試驗10次后，讓短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。

判定標準

上述試驗后，電源模塊開機能正常工作;開機殼檢查，電路板及其他部分無異常現象(如輸入繼電器在短路的過程中觸電是否粘住了等)，合格；否則不合格。

2. 反復開關機測試

測試說明

電源模塊輸出帶最大負載情況下，輸入電壓分別為220v，(輸入過壓點-5v)和(輸入欠壓點+5v)條件下，輸入反復開關，測試電源模塊反復開關機的性能。

測試方法

輸入電壓為220v，電源模塊快帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s(或者可以用ac source進行模擬)，連續運行2小時，電源模塊應能正常工作。

輸入電壓為過壓點-5v，電源模塊帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s(或者可以用ac source進行模擬)，連續運行2小時，電源模塊應能正常工作。

輸入電壓為欠壓點-5v，電源模塊帶最大負載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s(或者可以用ac source進行模擬)，連續運行2小時，電源模塊應能正常工作。

判定標準

以上試驗中，電源模塊工作正常，試驗后電源模塊能正常工作，性能無明顯變化，合格；否則不合格。

3. 輸入低壓點循環測試

測試說明

一次電源模塊的輸入欠壓點保護的設置回差，往往發生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點關斷，帶載時欠壓，斷后，由于電源內阻原因，負載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時反復開發的狀態。

測試方法

電源模塊帶滿載運行，輸入電壓從(輸入欠壓點-3v)到(輸入欠壓點+3v)緩慢變化，時間設置為5～8分鐘，反復循環運行，電源模塊應能正常穩定工作，連續運行最少0.5小時，電源模塊性能無明顯變化。

判定標準

一次電源模塊正常連續運行，最少0.5小時后性能無明顯變化，合格;否則不合格。

4. 輸入瞬態高壓測試

測試說明

pfc電路采用平均值電路進行過欠壓保護，因此在輸入瞬態高壓時，pfc電路可能會很快實現保護，從而造成損壞，測試一次電源模塊在瞬態情況下的穩定運行能力以評估可靠性。

測試方法

額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護信號，輸入電壓從限功率點加5v跳變為300v，從示波器上讀出過壓保護前300v的周期數n，作為以下試驗的依據。

額定輸入電壓，電源模塊帶滿載運行，在輸入上疊加300v的電壓跳變，疊加的周期數為(n-1)，疊加頻率為1次/30s，共運行3小時。

判定標準

一次電源模塊在上述條件下能夠穩定運行，不出現損壞或其他不正常現象，合格；否則不合格。

5. 輸入低壓跌落及輸出動態負載測試

測試說明

一次模塊在實際使用過程中，當輸入電壓跌落時，電源模塊突加負載的極限況是可能發生的，此時功率器件、磁性元件工作在最大瞬態電流狀態，試驗可以檢驗控制時序、限流保護等電路及軟件設計的合理性。

測試方法

將輸入電壓調整為在欠壓點+5v(持續時間為5s)、過壓點-5v(持續時間為5s)之間跳變，輸出調整在最大負載(最大額定容量，持續時間為500ms)、空載(持續時間為500ms)之間跳變，運行1小時;

將輸入電壓調整為欠壓點+5v(持續時間為5s)、過壓點-5v(持續時間為5s)之間跳變，輸出調整在最大負載(最大額定容量，持續時間為1s)、空載(持續時間為500ms)之間跳變，運行1小時。

判定標準

在上述條件下，應能穩定運行，不出現損壞或其他不正常現象，合格;否則不合格。若出現損壞情況，記錄故障問題，以提供分析損壞原因的依據。 

以上是創芯檢測小編整理的開關電源測試相關內容，希望對您有所幫助。我公司擁有專業工程師及行業精英團隊，建有標準化實驗室3個，實驗室面積1800平米以上，可承接電子元器件測試驗證、IC真假鑒別，產品設計選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。