分立器件 GRM21BR61H475KE51L 失效分析報告
日期:2024-11-04 16:25:50 瀏覽量:383 作者:創芯在線檢測中心
綜上測試分析,F2失效品因EOS導致內部結構燒毀而引起短路失效。
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綜上測試分析,F2失效品因EOS導致內部結構燒毀而引起短路失效。
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